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- 精密电子分析天平,2200g,0.01gFZ-2000i
- 分析天平,610g,0。1mgME614S
- 电子分析天平,210g,0.1mgHR-200
- FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01gFX-3000GD
- FX-iWP 系列防水精密电子天平,320g,0.001gFX-300iWP
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| 产品图片 | 产品名称/型号 | | 主要技术指标 | 价格 从低到高 默认 | | 分析天平,210g,0.1mg
BP210S | 德国赛多利斯SARTORIUS | 读数精度:0.1mg 称重范围：210g | 洽询
 | | 电子分析天平,220g,0.1mg
BS224S | 德国赛多利斯SARTORIUS | BS224S 0.1 220 ф80 0.1 0.2 | 洽询
| | FX-GD系列克拉天平,320g,0.001g
FX-300GD | 日本AND | 称重范围320g读数精度
0.001g
重复精度
0.001g
| 洽询
| | 电子分析天平,210g,0.1mg
HR-200 | 日本AND | 测量范围:210克 | 洽询
| | 分析天平,610g,0.1mg
ME614S | 德国赛多利斯SARTORIUS | 称重范围(g)：610 | 洽询
| | 专业型分析天平,210g,0.1mg
AP250D | 美国奥豪斯OHAUS | 量程（ g ）: 52/210 | 洽询
| | FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g
FX-3000GD | 日本AND | 称重范围3200g读数精度0.01g重复精度0.01g | 洽询
| | 分析天平,230g,0.01mg
ME235S-OCE | 德国赛多利斯SARTORIUS | 称重范围(g)：230 | 洽询
| | FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g
FX-300CT | 日本AND | 称重范围（ct/g）
310/62
读数精度(ct/g)
0.001/0.001
重复性(ct/g)
0.001/0.005
| 洽询
| | 精密电子分析天平,2200g,0.01g
FZ-2000i | 日本AND | 称重范围：2200g | 洽询
| | 电子分析天平,220g,0.1mg
BSA224S | 德国赛多利斯SARTORIUS | BSA224S 0.1 220 ф80 0.1 0.2 | 洽询
| | CPA系列精密天平,1000g,0.001mg
CPA1003S | 德国赛多利斯SARTORIUS | 可读性（mg）0.001量程（g）1,000秤盘尺寸（mm）ф 110* | 洽询
| | BSA-CW系列电子分析天平,620g,1mg
BSA623S-CW | 德国赛多利斯SARTORIUS | 量程（g）620 | 洽询
| | 艾科勒 ALB-124 电子天平,120g,0.1mg
ALB-124 | 德国赛多利斯SARTORIUS | 称量范围(g)：120 | 洽询
| | FX-iWP 系列防水精密电子天平,320g,0.001g
FX-300iWP | 日本AND | 量程 320g 精度
0.001g
称盘尺寸 Ø
130mm
| 洽询
| | FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
FX-1200i | 日本AND | FX-1200i
1220g
0.01g
直径150mm
| 洽询
| | 精密电子天平,21g,0.01mg
BS21S | 德国赛多利斯SARTORIUS | 称重范围(g)：21 | 洽询
| | 分析天平,5.1g,0.001mg
ME5-OCE | 德国赛多利斯SARTORIUS | 称重范围(g):5.1 | 洽询
| | FX-CT系列克拉天平,610g/122g,0.001g/0.005g
FX-600CT | 日本AND | 称重范围（ct/g）610/122读数精度(ct/g)0.001/0.001重复性(ct/g)0.001/0.005 | 洽询
| | 日本AND BM系列自动微量分析天平1μg
BM系列 | 日本AND | 最小显示精度1μg(BM-20/BM-22)<br/>元素分析/烟尘分析/环境测定/生化相关实验/微量分析测量 | 洽询
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